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Test de validation des semi-conducteurs

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Découvrez comment le test de validation des semi-conducteurs profite du PXI.

Réduisez les coûts des tests de validation des semi-conducteurs en adoptant des plates-formes matérielles flexibles comme le PXI ainsi que des logiciels modulaires comme NI TestStand. Avec l'architecture modulaire du PXI, vous pouvez créer des systèmes de test personnalisés que vous pouvez ensuite modifier pour répondre à l'évolution de vos besoins en matière de test. Plus de 60 fabricants proposent quelque 1000 modules au choix, dont :

  • des unités de source et mesure (SMU) capables de descendre jusqu'à 1 nA
  • des matrices de commutation qui offrent jusqu'à 544 points de connexion
  • des E/S numériques avec des vitesses d'horloge pouvant atteindre 200 MHz
  • des instruments pour signaux mixtes incluant des numériseurs et des DSA
  • une acquisition et une génération RF à des fréquences jusqu'à 6,6 GHz maximum

Des systèmes semi-conducteurs complets

Découvrez un exemple d'architecture d'un système flexible de validation de circuits ouverts et de courts-circuits basé sur des instruments modulaires PXI, ou configurez un système en fonction de spécifications requises.

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Composants des systèmes de test de semi-conducteurs

Composants essentiels

Les SMU (unités de source et mesure) et les alimentations programmables

  • Source de précision à quatre quadrants
  • Résolution des mesures jusqu'à 1 nA et 100 µV
  • Source jusqu'à 40 W, puits jusqu'à 10 W

Matrices de commutation haute densité

  • Jusqu'à 544 points de connexion
  • Relais FET offrant une durée de vie illimitée
  • Vitesses pouvant atteindre 50 000 cycles par seconde

E/S numériques haute vitesse

  • Vitesses d'horloge jusqu'à 200 MHz
  • Horloge, déclenchement et script de formes d'ondes avancés
  • Configuration des entrées/sorties par cycle et comparaison des données matérielles

Composants spécialisés

Instruments pour signaux mixtes

  • Numériseurs haute vitesse
  • Générateurs de signaux arbitraires
  • Analyseurs de signaux dynamiques

Instruments RF

  • Acquisition et génération jusqu'à 6,6 GHz
  • Bande passante temps réel jusqu'à 20 MHz
  • Logiciels souples : Toolkits NI Modulation et Spectral Measurements

Tests de semi-conducteurs courants

Articles d'utilisateurs sur le test des semi-conducteurs