NI PXI Semiconductor Suite Die NI PXI Semiconductor Suite besteht aus zehn neuen Produkten, welche die Funktionen von PXI und NI LabVIEW für softwaredefinierte Halbleiterprüfsysteme erweitern. Die neuen Produkte ermöglichen u. a. digitale Messungen bis zu 200 MHz, parametrische DC-Messungen mit bis zu 10 pA Auflösung, schnelle RF-Abstimmzeiten, parametrische Tests für Hochgeschwindigkeitsdigitalsignale und die Möglichkeit, die Vektorformate WGL (Waveform Generation Language) und STIL (Standard Test Interface Language) direkt zu importieren. Diese neuen Messgeräte erweitern die Funktionen von PXI und LabVIEW und stellen somit eine flexible Mixed-Signal-Prüfplattform für die Validierung, Charakterisierung und Produktion unterschiedlicher Halbleitergeräte zur Verfügung. HardwarePräzisions-SMU NI PXI-4132
Funktionen | Demo | Spezifikationen Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Geräte NI PXIe-6544/45 (100 MHz) und NI PXIe-6547/48 (200 MHz)
Funktionen | Demo | Spezifikationen 6,6-GHz-Vektorsignalanalysator NI PXIe-5663E und 6,6-GHz-Vektorsignalgenerator NI PXIe-5673E
Funktionen | Demo | Spezifikationen des NI PXIe- 5663E | Spezifikationen des NI PXIe-5673E Schaltmodul für Hochgeschwindigkeits-Digitalsignale NI PXI/PXIe-2515
Funktionen | Demo | Spezifikationen SoftwareImport von WGL/STIL-Prüfvektordateien
KundenlösungenHalbleiterprüflösungen |
Führen Sie Strommessungen mit einer Auflösung von 10 pA – weniger als 100 pA bei Raten von 10 kHz – und erweiterten Sequenz- und Trigger-Funktionen an integrierten Schaltungen durch.
Erfassen bzw. erzeugen Sie Digital-I/O-Signale mit bis zu 200 MHz auf bis zu 32 Kanälen mit anspruchsvollen Funktionen wie Echtzeit-Bitvergleich und verbesserter Timing-Steuerung bei der Chipanbindung.
Führen Sie schnelle Multiband-RF-Messungen mit dem RF List Mode durch, um eine vorkonfigurierte Reihe an Leistungspegeln und Frequenzen bei drahtlosen und Mixed-Signal-Schaltungen abzutasten.
Schalten Sie in Präzisions-DC-Messgeräten, u. a. SMUs und DMMs, auf bis zu 32 Digital-I/O-Kanälen, um Leckstrom- und andere parametrische Messungen auf dem Chip durchzuführen.
Importieren Sie mithilfe von TD-Scan von TSSI für NI-Software WGL- und STIL-Prüfvektorformate für den Einsatz mit NI-HSDIO-Messgeräten.